Semplor公司型號Nanos系統配備二次電子探測器、四分割背散射電子探測器、EDS能譜探測器及光學導航相機，能夠實現形貌、結構以及成分分析。同時獨特的高分辨成像（ECO）、大束流分析模式（Bright）及同時兼顧高分辨成像和分析（Medium）三種模式燈絲束流優化，能夠將傳統鎢燈絲壽命從80-100小時延長到1000小時以上，并且得益于自帶燈絲對中裝置，故而僅需要非預對中鎢燈絲即可，大大降低使用成本。加速電壓范圍覆蓋1-20kV，從而具備低電壓成像功能，有效降低電子束對樣品的輻照損傷，同時能夠減少荷電效應，滿足電子束敏感材料等應用需求。同時，新款NANOS可以搭載EBSD探頭，成功將實驗室級的晶體學分析能力融入到便捷式臺掃中，大大降低了EBSD技術的使用門檻，為材料科學、工業生產等領域的用戶提供了一個在自有實驗室即可實現的、高效的綜合性微區分析解決方案。

邁科英諾型號UFM-1000離子束切割拋光儀采用電磁及永磁體結合雙聚焦離子槍設計，保證足夠大的拋光面積的同時兼顧拋光速度，拋光速率達到1mm/Hr（Si@8keV）。配備紅外高度檢測裝置，能夠滿足不同尺寸樣品對位需求，提升設備的利用率。可選配液氮冷臺，去除離子束制樣的高溫對樣品的破壞，滿足溫度敏感材料制樣需求。

邁科英諾型號UFM-2000精密離子減薄儀采用電磁及永磁體結合雙聚焦離子槍設計，高電壓離子束散開獲得更大薄區，低電壓匯聚提高精修效率。可選配液氮冷臺，去除離子束制樣高溫帶來的相變、缺陷遷移、優先減薄等人為干擾，滿足溫度敏感材料制樣需求。

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